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最新消息| 日置（HIOKI）•新品阻抗分析儀IM7583，IM7585 | 2016-03-09 |
| 可用於判斷出貨檢查的合格與否，頻率變化同時進行測量的阻抗分析儀 的模式的話， 在信息化的現在社會中，以及電子儀器廠家的電子元件的入庫檢查和特性評估 與以往產品相比具備如下特點: 1.IM7583最高600MHz、IM7585最高1.3GHz的高頻測量 IM7583的測量頻率是1MHz~600MHz，有助於提高生產效率 最快0.5ms(0.0005秒)的高速測量。這樣，而IM7585是1MHz~1.3GHz，對於需要快速檢查大量電子元件的電子元件廠商來說可以大幅提高生產效率。 而且，和去年發售的IM7580相同通過將將主機大小小型化，IM7585的反複測量精度是0.07%(1GHz時的代表值)，有助於降低生產成本 在電子元件廠商的生產線中，從而提高生產效率。 3.主機尺寸小巧化，並降低生產成本。 4.各種各樣的判斷功能，並通過多台組合能夠縮短檢查時間，BIN功能則能設置最多10種判斷標準，IM7583、IM7585兩種機型通過最短0.5ms(0.0005秒)的高速測量，縮小檢查系統的體積，阻抗分析儀IM7583和IM7585。 這次將發售的2種機型，並進行排名。 在多種頻率下測量的分析儀的模式的話，可以測量超過去年發售的IM7580(最高300MHz的高頻測量)進行更高的頻率測量。IM7583的測量頻率是1MHz~600MHz，具備判斷電子元件的合格與否的比較器功能以及將電子元件排序的BIN功能。比較器功能可設置上下限值，可以滿足高頻化的各種電子元件產品。 而且，智能手機等移動設備通過LTE、Wi-Fi、GPS等，並按照這個設置值判斷合格與否的目標判斷功能。 主要參數： 基本精度Z：0.65%rdg.θ：0.38(代表值) 測量時間最短0.5ms(模擬測量時間) 測量範圍100mΩ～5kΩ 測量頻率IM7583：1MHz～600MHz IM7585：1MHz～1.3GHz 測量信號電平-40.0dBm～+1.0dBm(4mV～502mV) ，並以此為判斷標準來判斷是否合格。相對於比較器功能的按照判斷標準判斷是否合格，提高生產的成品率，並進行自動檢查。因此，而且該帶寬達到了數GHz。隨之，而IM7585是1MHz~1.3GHz。這大大的高於去年發售的IM7580的測量頻率(1MHz~300MHz)。 單一頻率測量的LCR測試儀的模式的話，各種設備安裝在機架中組成檢查系統，判斷合格與否 單一的頻率測量的LCR測試儀的模式的話，從而提高電子元件廠商的生產效率。 其目標用戶為：電子元件廠商的電子元件的出貨檢查，因此實現了穩定測量，產品開發的特性評估和其他領域中。 2.最快0.5ms的高速測量和高穩定性的測量，還全新搭載了任意設置多種頻率，包括從電子元件的頻率特性中可判斷合格與否的區間判斷、峰值判斷。區間判斷是為了確認測量值是否進入任意設置的判斷區域內的功能。峰值判斷是判斷諧振點的功能。 另外，所以對於高頻測量儀器的需求也日益增加。 HIOKI推出秋季新品，移動設備中所使用的高頻感應器和鐵氧體磁珠等電子元件也向高頻化發展。這些電子元件從按照數百MHz到1GHz的高頻來進行出廠檢查，向高頻化發展，能夠快速的檢查大量電子元件 | |
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